x射线荧光光谱分析仪PCB抄板克隆

力思专业从事反向技术研究，在PCB抄板界享有盛名。我司采用世界上最先进的扫描设备，并且拥有专业的、有经验的抄板团队，能解决并完善当前PCB设计布线中的一些缺陷及不足现在可对各种产品进行模拟仿真，保证设计质量。
　　技术参数：
　　测量范围：Na (11)~U (92)
　　元素含量分析范围：1ppm~100%
　　探测器类型：硅漂移探测器（SDD）
　　X-光管：Mo-阳极标准（Rh,W,Ag,Cr可选）
　　分辨率：160ev±10ev
　　X-射线电压：3-50kV,50W
　　电力供应：115VAC/60Hz，230VAC/50Hz
　　稳定性：室温条件下精确到0.1%
　　采样器：一个位置
　　工作条件：空气
　　尺寸（L×W×H，cm）：46×44×34(不含包装)，75×75×65（含包装）
　　重量：25Kg（净重），60Kg(总重)